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臺式電鏡SEM，即掃描電子顯微鏡(ScanningElectronMicroscope)，是利用電子束掃描樣品表面，通過收集二次電子、背散射電子等信號來獲取樣品表面形貌、組成和結構信息的顯微分析儀器，具有高分辨率、大景深、立體感強等特點，廣泛應用于材料科學、生物學、地質學、冶金學等領域。基本工作原理是：電子槍發射出高速電子束，經過電磁透鏡系統聚焦成直徑為納米級別的細束；電子束在掃描線圈的作用下按照一定規律掃描樣品表面，與樣品相互作用產生二次電子、背散射電子等信號；這些信號被探...

X射線粉末衍射儀利用具有一定發散度的特征X光束照射多晶平板樣品。當X射線入射到晶體時，會在晶體中產生周期性變化的電磁場，引起原子中的電子振動。基于晶體結構的周期性，晶體中各個電子的散射波會相互干涉、相互疊加，形成衍射。散射波周相一致并相互加強的方向被稱為衍射方向，這些方向上的衍射線會被檢測并記錄下來。通過分析這些衍射線的強度和位置，可以推斷出晶體的結構信息。主要由以下四大部分組成：1.X射線發生器：產生X射線束，作為入射光源。2.測角儀：用于精確控制樣品和探測器之間的角度，確...

巖礦分析系統是一種用于地質樣品元素含量、元素形態和同位素比值分析的技術手段，它對于地球科學研究、礦產資源評估和環境監測具有重要意義，優勢特點體現在多個方面，這些特點不僅提高了分析的效率和準確性，而且拓寬了地質科學研究和應用的領域。1.快速高效-自動化程度高：通常具有高度自動化的特點，能夠在一套軟件上完成所有操作，大大提高了測量效率。-多元素同時分析：能夠實現高精度、高準確度的多元素(包括同位素)同時分析，這在傳統方法中是難以達到的。2.準確性和準確度-低檢出限：能夠達到超低的...

巖礦分析是對巖石、礦物等天然或人工材料進行化學成分和結構特征的系統鑒定過程，它是地質科學、環境科學以及材料科學中不可少的技術。巖礦分析系統的關鍵知識點：1.分析原理與技術-基本原理：巖礦分析基于物質的物理和化學性質，諸如密度、磁性、電性、光學特性以及化學反應特性等來進行。這些性質能夠幫助科學家識別并定量巖石和礦物中的組分。-分析方法：常用的巖礦分析方法包括X射線衍射(XRD)、X射線熒光光譜(XRF)、原子吸收光譜(AAS)、質譜分析(MS)等，這些技術能夠對巖石和礦物進行準...

超高壓XRD技術是一種利用X射線與物質相互作用，通過分析衍射圖譜來研究物質的物相和晶體結構的技術。這種技術在材料科學、物理學、化學等領域具有廣泛的應用。其優勢特點主要體現在以下幾個方面：1.物相和晶體結構的準確測定-物質組成分析：能夠準確測定物質的組成，包括晶體和非晶體的組成。-晶型識別：通過衍射圖譜可以識別不同的晶型，為材料的性質研究提供基礎。-分子結構分析：能夠分析分子內的成鍵方式、分子的構型和構象，從而深入了解物質的微觀結構。2.高壓環境下的研究能力-高壓實驗系統：配備...

原子力顯微鏡(AtomicForceMicroscopy，AFM)是一種具有原子級別高分辨率的新型表面分析儀器，它不但能像掃描隧道顯微鏡(STM)那樣觀察導體和半導體材料的表面現象，而且能用來觀察諸如玻璃、陶瓷等非導體表面的微觀結構，還可以在氣體、水和油中無損傷地直接觀察物體，大大地拓展了顯微技術在生命科學、物理、化學、材料科學和表面科學等領域中的應用。AFM主要由掃描隧道顯微鏡(STM)發展而來，其基本原理相似。AFM通過一個微小的針尖與樣品表面相互作用，以實現高分辨率的表...

光電探測器的原理是由輻射引起被照射材料電導率發生改變，在各個領域有廣泛用途。光電探測器的核心參數主要有工作波長、帶寬、上升時間和響應度，它們是評估光電探測器性能的關鍵指標，也是光電探測器選型的重要依據。在選擇光電探測器時，需要根據具體應用需求來平衡這些指標，以獲得良好的檢測性能。1、工作波長光電探測器的工作波長是指其可以感測到的光信號的波長范圍，通常與探測器的材料有關。基于光電探測器的工作原理，當入射光的能量(hv)大于材料的禁帶寬度時，價帶的電子才可以躍遷到導帶形成光電流，...